キーコム特性評価測定分析受託サービスセンター

電波吸収材料測定サービス(電波吸収体・電波吸収率分析受託試験)

Catalog No. eas

年間1000サンプルを超える電波吸収率(電波吸収材料)測定の経験から、的確な測定方法・装置をご提案、正確な値を速やかに測定することが可能です。キーコムは誘電率測定装置に高い技術を有するだけでなく、測定技術自体にも高い技術を有しています。

*弊社は電波吸収率測定装置の JIS化委員 に選出されています。



お問い合せ先
info@keycom.co.jp (お急ぎの場合には TEL 03-5950-3101)
ご連絡先、測定内容、ご質問等ご明記の上、お気軽にお問い合せください。
ご必要な場合には、下記 受託試験見積依頼書 をお使いください。折り返し営業担当もしくは技術担当よりご連絡差し上げます。

受託試験見積依頼書
受託試験見積依頼書です。
ダウンロード後、印刷、または保存の上されると記入が可能となります。必要事項をご記入の上、FAXもしくはメールに添付してご送付ください。
見積依頼(MS-Word)

見積依頼(PDF)

豊富な測定サービスによる経験を活用し、的確な測定方法・装置をご提案、正確な値を速やかに測定することが可能です。
→通常納期:1週間 (お急ぎの場合は要相談)
→期末期等混み合う時期:2週間程度 (お急ぎの場合は要相談) 
→お時間を必要とする測定:2~3週間 (お急ぎの場合は要相談)
技術的に困難なご要求や現時点で取り扱っていない測定でも、理論的に可能であれば、様々な測定装置開発経験より、測定を可能にするよう努めております。是非ご相談下さい。(通常よりお時間を頂きます。3週間~)
例)2005年11月に開発した測定方法→低周波における極薄膜(0.01μm)の誘電率・誘電正接測定
弊社社長はIEC(International Electrotechnical Commission / 国際電気標準会議)規格原案作成の委員です。
弊社の開発した誘電率・透磁率測定装置や電波吸収率測定装置がJIS規格化されました。
*JIS化委員に選出されています。
・誘電率測定
・電波吸収率測定
弊社の開発した誘電率・透磁率測定装置や電波吸収率測定装置がJIS規格化されました。
*JIS化委員に選出されています。
・誘電率測定
・電波吸収率測定
電波吸収率測定装置につきましては、2007年にIEC規格化されることが決定しています。

ご発注の仕方(下記モデル番号もしくはご要望をお知らせください)

サンプルの大きさ
方式 周波数帯 サンプルの大きさ
フリースペース反射法
・垂直入射
・斜入射
2.6GHz-26.5GHz
(1レンジ)
450mm×450mm程度
(最小300mm×300mm)
26.5-110GHz
(1レンジ)
250mm×250mm程度
近傍界用 0.1GHz-3GHz 100mm×50mm以上
3GHz-18GHz
18GHz-40GHz